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軟磁直流測(cè)量裝置FE-2010SD

規(guī)格:100*100

所屬類型:其它儀器

品牌:永逸

  • 價(jià)格:85000
  • 發(fā)布時(shí)間:2012/09/27 16:32
  • 數(shù)量:1
  • 所在地:湖南 婁底
產(chǎn)品詳情
  • 規(guī)格:100*100
  • 品牌:永逸
  • 用途:

一、概敘

FD-2010SD適用于測(cè)量各種鐵氧體、純鐵、硅鋼、坡莫合金、非晶和納米晶等軟磁材料的起始磁導(dǎo)率μi、大磁導(dǎo)率μm、飽和磁感應(yīng)強(qiáng)度Bs、剩磁Br和矯頑力Hc等。依照沖擊法的測(cè)量原理,采用計(jì)算機(jī)控制技術(shù)和A/D、D/A相結(jié)合,以電子積分器取代傳統(tǒng)的沖擊檢流計(jì),實(shí)現(xiàn)微機(jī)控制下的模擬沖擊法測(cè)量,不僅可以完全消除經(jīng)典沖擊法中因使用沖擊檢流計(jì)所帶來的非瞬時(shí)性誤差,而且測(cè)量精度高、速度快、重復(fù)性好、可消除各種人為因數(shù)的影響,為研究材料磁化過程機(jī)理提供可靠的依據(jù)。整個(gè)測(cè)試過程自動(dòng)完成??衫L制基本磁化曲線、磁導(dǎo)率曲線和磁滯回線,可打印多種格式的測(cè)試報(bào)告。

二、軟磁材料直流磁參數(shù)的定義和解釋

1、初始磁導(dǎo)率μi:定義當(dāng)勵(lì)磁場(chǎng)強(qiáng)H接近無限小時(shí),材料的磁感應(yīng)B與勵(lì)磁場(chǎng)強(qiáng)H的比值。它是判斷磁性材料一個(gè)重要的技術(shù)指標(biāo)。要求測(cè)試數(shù)據(jù)在材料的瑞利區(qū)范圍內(nèi)完成。常用的磁性材料瑞利區(qū)范圍見下表:

電工純鐵

電工硅鋼

鐵氧體

坡莫合金

非晶及納米晶

0.01 Oe

0.06 Oe

0.04 Oe

0.01 Oe

0.001 Oe

對(duì)于高鎳合金材料,在很低的磁場(chǎng)作用下,磁導(dǎo)率表現(xiàn)出明顯的非線性,不能滿足瑞利區(qū)的規(guī)律。一般情況下,采用可以測(cè)量但不是真實(shí)的μi來給出接近的初始磁導(dǎo)率。各國(guó)家對(duì)磁場(chǎng)的規(guī)定如下表:

日本

俄羅斯

美國(guó)

中國(guó)

國(guó)家冶金部

0.005 Oe

0.005 Oe

20Gs對(duì)應(yīng)的H

0.001 Oe

0.002 Oe

2、大磁導(dǎo)率μm:取對(duì)應(yīng)Bi/Hi的大值,作為材料的大磁導(dǎo)率。理論上講采用采用沖擊法進(jìn)行測(cè)量,測(cè)試點(diǎn)越多,測(cè)試步進(jìn)越小,測(cè)試的材料大磁導(dǎo)率越真實(shí)。

3、飽和磁感應(yīng)強(qiáng)度Bs:指材料在勵(lì)磁場(chǎng)強(qiáng)Hi達(dá)到一定強(qiáng)度后,材料的磁感應(yīng)強(qiáng)度Bi不再發(fā)生變化,將所對(duì)應(yīng)的磁感應(yīng)強(qiáng)度定義為材料的飽和磁感應(yīng)強(qiáng)度Bs。對(duì)于不同的材料,飽和磁感應(yīng)強(qiáng)度Bs不同,目前現(xiàn)有的軟磁材料一般在2.5T以下。

4、剩磁Br:將材料進(jìn)行飽和磁化后,撤除所施加的外場(chǎng)HH=0時(shí)),樣品仍然有一個(gè)剩余磁感應(yīng)強(qiáng)度,我們定義此時(shí)的剩余磁感應(yīng)強(qiáng)度為材料的剩磁。

5、矯頑力Hc:材料在飽和磁化后,撤除勵(lì)磁場(chǎng)強(qiáng)材料退到剩磁Br點(diǎn),這時(shí)候施加反向的勵(lì)磁磁場(chǎng),是材料的磁感應(yīng)強(qiáng)度達(dá)到零,所施加的方向勵(lì)磁磁場(chǎng)H,我們定義為材料的矯頑力Hc

三、裝置硬件與軟件的說明

1、FE-2010SD軟磁直流測(cè)量裝置主機(jī):包含程控測(cè)試電源和自動(dòng)切換量程的磁通計(jì)。

1)、程控勵(lì)磁電源:輸入電源:200V±20V,5A;輸出功率:±50V/10A;電流控制量程:1mA10A自動(dòng)切換量程,并自帶樣品退磁功能。電流輸出精度:0.1%,穩(wěn)定性:0.05%

2)、磁通計(jì):0.25mWb20mWb自動(dòng)切換量程,小靈敏度:0.05μWb(沖擊法)。

2AD/DA數(shù)據(jù)采集卡:16Bit±1/2LSB,轉(zhuǎn)換精度:0.03%

3、純鐵標(biāo)準(zhǔn)樣品,用于對(duì)設(shè)備進(jìn)行校驗(yàn)。

4、聯(lián)想品牌計(jì)算機(jī)和HP激光打印機(jī)。

5、測(cè)試軟件:運(yùn)行于WIN9X/ME/NT/2K/XP等操作系統(tǒng)下,有數(shù)據(jù)庫(kù)功能。操作簡(jiǎn)單,可直接輸出測(cè)試數(shù)據(jù)表格,也可生成初始磁化曲線、磁滯回線報(bào)告。

6、根據(jù)國(guó)標(biāo),已經(jīng)將常見的環(huán)形、EE形、EI形、雙園孔型等做在樣品庫(kù)中,用戶只需要直接輸入樣品的外觀幾何尺寸,軟件根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)直接換算材料的有效磁路長(zhǎng)度Le和有效面積Ae

四、測(cè)試方法的選擇

本裝置有兩種測(cè)試方法供用戶選擇,測(cè)試方法分別為:沖擊法和掃描法。一般情況下,對(duì)于材料進(jìn)行精準(zhǔn)測(cè)量,推薦使用沖擊法;掃描法一般推薦在快速測(cè)量Hc相對(duì)較大的材料檢驗(yàn)中使用。

五、測(cè)試樣品的準(zhǔn)備和操作過程

1、標(biāo)準(zhǔn)樣品的制備:國(guó)標(biāo)要求在測(cè)量時(shí),好使用標(biāo)準(zhǔn)樣品。對(duì)標(biāo)準(zhǔn)樣品的要求,儀環(huán)形樣品為例一般要求為壁厚W為材料直徑D1/6以內(nèi)。用戶可以根據(jù)實(shí)際情況進(jìn)行樣品的準(zhǔn)備和制作。

2、所加工的樣品好采用熱處里進(jìn)行材料軟化。

3、經(jīng)過熱處理后的樣品,可以直接進(jìn)行測(cè)試,不需要退磁,測(cè)試完成后,需要重復(fù)測(cè)試,測(cè)試前可以采用我們?cè)O(shè)備的自動(dòng)消磁功能,對(duì)材料進(jìn)行交流退磁。

4、測(cè)試前對(duì)樣品繞線的計(jì)算和操作:

1)、開機(jī)進(jìn)入測(cè)試程序,選擇所測(cè)試樣品的形狀,根據(jù)要求的幾何尺寸進(jìn)行測(cè)量,并填入相關(guān)表格中。

2)、然后點(diǎn)擊“其它”,程序自動(dòng)計(jì)算出材料的有效磁路長(zhǎng)度Le和有效截面積Ae。

3)、熟悉材料測(cè)試要求H的測(cè)試員,自己可以根據(jù)所配電源的實(shí)際情況,按大輸出電流來確定所繞的勵(lì)磁初級(jí)的匝數(shù),計(jì)算公式為H=NI/Le,為方便操作,軟件也添加了自動(dòng)計(jì)算功能,用戶只需要輸入匝數(shù),軟件將給出大勵(lì)磁的場(chǎng)強(qiáng)Hs,用戶根據(jù)情況進(jìn)行調(diào)整。

4)、繞線要求內(nèi)圈為次級(jí)感應(yīng)線圈,初級(jí)為外層,這樣可以避免由于空氣磁通的影響,造成測(cè)試數(shù)據(jù)的誤差。內(nèi)層線圈與測(cè)試樣品之間要進(jìn)行絕緣處里,好采用軟布對(duì)樣品進(jìn)行包裹后在進(jìn)行繞線。次級(jí)感應(yīng)線圈和初級(jí)勵(lì)磁線圈之間也采用同樣的方法進(jìn)行處里。

5)、樣品準(zhǔn)備完成后,將樣品的初級(jí)和次級(jí)分別接在裝置的測(cè)試夾上,注意將漆包線的線頭清理干凈,確保與鍍金測(cè)試夾良好接觸。

6)、設(shè)定所測(cè)試條件

·初始磁導(dǎo)率勵(lì)磁場(chǎng)強(qiáng)Hi;

·步進(jìn)系數(shù)dB

·大勵(lì)磁磁場(chǎng)Hm(此功能為鎖定Hm測(cè)量);

·大磁感應(yīng)強(qiáng)度Bm(此功能為鎖定Bm測(cè)量);

·選擇采用沖擊法或掃描法進(jìn)行測(cè)量,并設(shè)定沖擊間隔時(shí)間Tsw,對(duì)于磁滯較大的樣品,時(shí)間間隔選擇長(zhǎng)一點(diǎn),測(cè)試B值更準(zhǔn)確;

·選擇測(cè)試相關(guān)的參數(shù):磁化曲線、磁滯回線、以及磁特性參數(shù)等。

7)、填寫測(cè)試樣品的編號(hào)、材料類型、環(huán)境溫度濕度和測(cè)試日期,以及測(cè)試人員姓名等。

8)、參數(shù)設(shè)置完成,進(jìn)行測(cè)試。

六、測(cè)試過程中的注意事項(xiàng)

1、先開啟測(cè)試軟件,進(jìn)入測(cè)試程序,然后開啟測(cè)試電源。

2、點(diǎn)擊“測(cè)試”,系統(tǒng)進(jìn)入計(jì)算機(jī)控制狀態(tài),會(huì)先提示用戶是否采用電源對(duì)樣品進(jìn)行“退磁”處理,一般選擇退磁處理。

3、退磁處理完成后,直接開始進(jìn)行測(cè)試,采用掃描法進(jìn)行測(cè)試,速度比較快,大約在60秒內(nèi)完成測(cè)試,一般推薦在樣品比較多的情況下對(duì)材料進(jìn)行比較基本的測(cè)量。如需要進(jìn)行準(zhǔn)確的測(cè)量,請(qǐng)用戶選擇采用沖擊法進(jìn)行測(cè)試。

4、采用“沖擊法”測(cè)量,測(cè)試過程比較緩慢,整個(gè)過程在沖擊間隔時(shí)間Tsw設(shè)定為2秒的情況下,大約需要10分鐘,軟件屏幕自動(dòng)顯示沖擊過程中電流I與磁感B的變化。如出現(xiàn)測(cè)試過程超過20分鐘,請(qǐng)用戶檢查輸入?yún)?shù),并進(jìn)行修改。

5、測(cè)試完成后,所選中的測(cè)試參數(shù)數(shù)據(jù)將直接填寫在表格區(qū)中。用戶可選擇是否對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行保存。

6、用戶可以通過點(diǎn)擊“測(cè)試波形”、“磁滯回線”、“磁化曲線”等進(jìn)行頁(yè)面切換,有必要打印的可選擇所顯示的界面進(jìn)行打印。

7、測(cè)試完成后,先關(guān)電源,再退出測(cè)試程序。

七、測(cè)試數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確度

1、閉路樣品測(cè)量指標(biāo)

被測(cè)參數(shù)

Bs

Br

Hc

Pu

μi

μm

不確定度

1.0%

1.0%

1.5%

1.0%

5.0%

2.0%

重復(fù)性(恒溫)

±0.5%

±0.5%

±0.5%

±0.5%

±3.0%

±1.0%

2、開路樣品測(cè)量指標(biāo):

被測(cè)參數(shù)

Bs

Br

Hc

Pu

μi

μm

不確定度

2.0%

2.0%

2.0%

2.0%

10.0%

5.0%

重復(fù)性(恒溫)

±0.5%

±0.5%

±0.5%

±0.5%

±3.0%

±1.0%

標(biāo)簽:其它儀器

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