leeb342 超聲波測厚儀金屬外殼
leeb342超聲波測厚儀帶打印功能,分辨率0.01mm.
- 可配備多種不同頻率、不同晶片尺寸的雙晶探頭使用;
- 具有探頭零點(diǎn)校準(zhǔn)、兩點(diǎn)校準(zhǔn)功能, 可對系統(tǒng)誤差進(jìn)行自動修正;
- 已知厚度可以反測聲速,以提高測量精度;
- 具有耦合狀態(tài)提示功能;
- 有EL背光顯示,方便在光線昏暗環(huán)境中使用;
- 有剩余電量指示功能,可實(shí)時顯示電池剩余電量;
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