日本三豐粗糙度輪廓儀SV-C3200

• 規(guī)格：SV-C3200
• 品牌：三豐
• 用途：軸承，緊固件，傳動件，齒輪，檢測

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產品特點

• 高分辨力型Z1軸檢出器作為標準件提供。Z1軸的顯示分辨力為0.0001μm(測量范圍為8μm時)。

• X軸內置高精度玻璃光柵尺，直接讀取X軸移動距離，在高精度精準定位下，完成間距參數(shù)的評價。

• 檢出器測力有4mN和0.75mN可選。

• Z1軸(檢出器)上配有高精度弧形光柵尺和新型測臂。高精度弧形光柵尺能直接讀取測針的弧形軌跡，以實現(xiàn)高精度和高分辨力。與傳統(tǒng)型號相比，新測臂使Z1軸測量范圍增大了10mm 同時減少了工件的干擾。測臂安裝部采用了磁性鏈接件，單此接觸就能完成測臂的裝卸，提高了易用性。 • 專為SV-C-4500系列增加了以下兩大特性作為輪廓測量系統(tǒng)的專用功能。

裝配雙錐面測針，實現(xiàn)垂直方向(上/下)連續(xù)測量，所獲取的數(shù)據(jù)實現(xiàn)簡單分析以往難以測量的內螺紋有效直徑。測力可在FORMTRACEPAK軟件中設置。無需調整配重。

•卓越的表面粗糙度/輪廓FORMTRACEPAK分析程序，通過簡單的操作就能進行高級分析并即刻輸出結果。

• 表面粗糙度測試儀和輪廓測量儀結合在一起，節(jié)省安裝空間。

• 測臂安裝為一鍵式裝卸 (此項權在日本受理中)

測臂安裝部采用了磁性連接件，實現(xiàn)了快速更換。此外，裝卸部內置了安全結構。 •繁瑣的校正也可以上下兩面連續(xù)一次性完成(此項權在日本受理中)

SV-C4500 系列使用校正規(guī)(標配附件)，通過改進使得上下兩方附帶從動件的上下圓錐測針能簡便易行地進行校正。Z1 軸增益、對稱性、探針半徑等繁瑣的校正工作一次便可完成。

寧波中品檢測技術有限公司銷售三豐 SV-C3200，針對三豐 SV-C3200客戶提供相關咨詢服務，需要了解三豐 SV-C3200型號尺寸、重量、價格、安裝、維護等資料請與我們聯(lián)系。

 

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