- 規(guī)格:MiniTest730
- 品牌:德國(guó)EPK
- 用途:涂層測(cè)厚儀
新的MiniTest700涂層測(cè)厚儀產(chǎn)品線,加強(qiáng)了德國(guó)EPK(Elektrophysik)公司在全球涂層測(cè)厚市場(chǎng)的領(lǐng)導(dǎo)地位。
- 創(chuàng)新的SIDSP(探頭內(nèi)部數(shù)字信號(hào)處理)技術(shù)提升了測(cè)量的性 - 測(cè)量范圍達(dá)15mm,可F、N或FN探頭,提供內(nèi)置或外接探頭 - FN探頭自動(dòng)識(shí)別F(鐵磁性)或N(非磁性)基體,操作方便不易出錯(cuò)
德國(guó)EPK涂鍍層測(cè)厚儀MiniTest730涂層測(cè)厚儀優(yōu)點(diǎn)一覽 | | |
- SIDSP使測(cè)量不受干擾,測(cè)值更加 - 可更換探頭使用更加靈活(MiniTest740探頭可由內(nèi)置換為外置) - FN探頭自動(dòng)識(shí)別基體,使測(cè)量更迅速,避免操作錯(cuò)誤 - 溫度補(bǔ)償功能避免溫度變化引起的錯(cuò)誤 - 生產(chǎn)過(guò)程中50點(diǎn)校準(zhǔn)使儀器獲得高度的特征曲線 - 大存儲(chǔ)量,能存儲(chǔ)10或100組多達(dá)100,000個(gè)讀數(shù) - 讀數(shù)和統(tǒng)計(jì)值能單獨(dú)調(diào)出 - 超大,背光顯示屏,顯示內(nèi)容可180度旋轉(zhuǎn) - 菜單指引操作,25種語(yǔ)言可選 - 帶IrDA接口,紅外線傳輸數(shù)據(jù)到打印機(jī)和PC - 可下載更新軟件
德國(guó)EPK涂鍍層測(cè)厚儀MiniTest730涂層測(cè)厚儀技術(shù)參數(shù) 主機(jī) 主機(jī)型號(hào) | MiniTest720 | MiniTest730 | MiniTest740 | 探頭類型 | 內(nèi)置 | 外置 | 內(nèi)置外置可換 | 數(shù)據(jù)記憶組數(shù) | 10 | 10 | 100 | 存儲(chǔ)數(shù)據(jù)量 | 多10,000個(gè) | 多10,000個(gè) | 多100,000個(gè) | 統(tǒng)計(jì)值 | 讀值個(gè)數(shù)、小值、大值、平均值、標(biāo)準(zhǔn)方差、變異系數(shù)、組統(tǒng)計(jì)值(標(biāo)準(zhǔn)設(shè)置/自由配置) | 校準(zhǔn)程序符合國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)和規(guī)范 | ISO、SSPC、瑞典標(biāo)準(zhǔn)、澳大利亞標(biāo)準(zhǔn) | 校準(zhǔn)模式 | 出廠設(shè)置校準(zhǔn)、零點(diǎn)校準(zhǔn)、兩點(diǎn)校準(zhǔn)、三點(diǎn)校準(zhǔn),使用者可調(diào)節(jié)補(bǔ)償值 | 極限值監(jiān)控 | 聲、光報(bào)警提示超過(guò)極限 | 測(cè)量單位 | μm,mm,cm;mils,inch,thou | 數(shù)據(jù)接口 | IrDA 1.0(紅外接口) | 電源 | 2節(jié)AA電池 | 標(biāo)準(zhǔn) | DIN EN ISO 1461,2064,2178,2360,2808,3882,19840 ASTM B244,B499,D7091,E376 AS 3894.3,SS 1841 60,SSPC- PA 2 | 操作溫度 /存放溫度 | - 10℃~60℃/- 20℃~70℃ | 體積 | 157mm x 75.5mm x 49mm | 重量 | 約175g | 約210g | 約175g(內(nèi)置)/230g(外置) | 技術(shù)參數(shù) 探頭特性 | F1.5,N07,F(xiàn)N1.5 | F2 | F5,N2.5,F(xiàn)N5 | F15 | F | N | F | F | N | F | 測(cè)量范圍 | 0~1.5mm | 0~0.7mm | 0~2mm | 0~5mm | 0~2.5mm | 0~15mm | 使用范圍 | 小工件,薄涂層 | 粗糙表面 | 標(biāo)準(zhǔn)探頭,使用廣泛 | 厚涂層 | 測(cè)量原理 | 磁感應(yīng) | 電渦流 | 磁感應(yīng) | 磁感應(yīng) | 電渦流 | 磁感應(yīng) | 信號(hào)處理 | 探頭內(nèi)部32位信號(hào)處理(SIDSP) | 度 | ±(1μm+0.75%讀值) | ±(1.5μm+0.75%讀值) | ±(5μm+0.75%讀值) | 重復(fù)性 | ±(0.5μm+0.5%讀值) | ±(0.8μm+0.5%讀值) | ±(2.5μm+0.5%讀值) | 低端分辨率 | 0.05μm | 0.1μm | 1μm | 小曲率半徑(凸) | 1.0mm | 1.5mm | 5mm | 小曲率半徑 | (凹,外置探頭) | 7.5mm | 10mm | 25mm | (凹,內(nèi)置探頭) | 30mm | 30mm | 30mm | 小測(cè)量面積 | Ø5mm | Ø10mm | Ø25mm | 小基體厚度 | 0.3mm | 40μm | 0.5mm | 0.5mm | 40μm | 1mm | 連續(xù)模式下測(cè)量速度 | 每秒20個(gè)讀數(shù) | 單值模式下大測(cè)量速度 | 每分鐘70個(gè)讀數(shù) | |
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