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leeb451袖珍式粗糙度儀 表面粗糙度儀

規(guī)格:leeb451

所屬類型:粗糙度檢測(cè)儀器

品牌:里博

  • 價(jià)格:1
  • 發(fā)布時(shí)間:2017/04/24 16:46
  • 數(shù)量:100
  • 所在地:山東 臨沂
產(chǎn)品詳情
  • 規(guī)格:leeb451
  • 品牌:里博
  • 用途:

leeb451袖珍式粗糙度儀表面粗糙度儀/表面光潔度儀/粗糙度測(cè)試儀/測(cè)量?jī)x

粗糙度儀又叫表面粗糙度儀、表面光潔度儀、表面粗糙度檢測(cè)儀、粗糙度測(cè)量?jī)x、粗糙度計(jì)、粗糙度測(cè)試儀等多種名稱。它具有測(cè)量精度高、測(cè)量范圍寬、操作簡(jiǎn)便、便于攜帶、工作穩(wěn)定等特點(diǎn),可以廣泛應(yīng)用于各種金屬與非金屬的加工表面的檢測(cè),該儀器是傳感器主機(jī)一體化的袖珍式儀器,具有手持式特點(diǎn),更適宜在生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)使用。外形采用拉鋁模具設(shè)計(jì),堅(jiān)固耐用,抗電磁干擾能力顯著,符合當(dāng)今設(shè)計(jì)新趨勢(shì)。

leeb451袖珍式粗糙度儀適用于生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng),可測(cè)量多種機(jī)加工零件的表面粗糙度,根據(jù)選定的測(cè)量條件計(jì)算機(jī)相應(yīng)的參數(shù),在液晶顯示器上清晰地顯示全部測(cè)量結(jié)果。
袖珍表面粗糙度儀是專用于測(cè)量被加工零件表面粗糙度的新型智能化儀器。該儀器集當(dāng)今微處理器技術(shù)和傳感技術(shù)于一體,以先進(jìn)的微處理器和優(yōu)選的高度集成化的電路設(shè)計(jì),構(gòu)成適應(yīng)當(dāng)今儀器發(fā)展趨勢(shì)的超小型的體系結(jié)構(gòu),可以完成粗糙度參數(shù)的采集、處理和顯示工作。
leeb451袖珍式粗糙度儀適用于加工業(yè)、制造業(yè)、檢測(cè)、商檢等部門,尤其適用于大型工件及生產(chǎn)流水線的現(xiàn)場(chǎng)檢驗(yàn),以及檢測(cè)、計(jì)量、商檢等部門的外出檢定。

表面粗糙度儀/表面光潔度儀/粗糙度測(cè)試儀/測(cè)量?jī)x技術(shù)參數(shù)
測(cè)量參數(shù):Ra、Rz、Rq、Rt
測(cè)量范圍:Ra:0.05-10.0μm
測(cè)量范圍:Ra:0.05-10.0μm; Rz:0.1-50μm
取樣長(zhǎng)度:0.25mm、0.8mm、2.5mm;
評(píng)定長(zhǎng)度:1.25mm、4mm、5mm
掃描長(zhǎng)度:6mm
示值誤差:≤±15%
示值變動(dòng)性:<12%
傳感器類型:壓電晶體
電源:3.7V鋰離子電池
工作溫度:0oC- 40oC
重量:200g
外型尺寸:106×70×24mm

粗糙度儀參數(shù)定義:

參數(shù) 定義 執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn) 說明
Ra 算術(shù)平均偏差 ISO4287:1998

Rq 均方根偏差 ISO4287:1998

Rz 輪廓大高度 ISO4287:1998 等于舊Ry
Rz(JIS) 十點(diǎn)高度平均值 ISO4287/1:1984 舊Rz
Rmax 輪廓大高度 DIN4768:1990

Rp 大輪廓峰高 ISO4287:1998

Rv 大輪廓谷深 ISO4287:1998

參數(shù) 定義 執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn) 說明
Rp(ASME) 大輪廓峰高 ASME B46

Rp(ASME) 平均輪廓峰高 ASME B46

Rt 輪廓總高度 ISO4287:1998

R3z 第三峰谷高度算術(shù)平均值


RPc 峰計(jì)數(shù) ASME B46

Rmr 輪廓長(zhǎng)度支承率 ISO4287:1998

RSm 輪廓單峰平均間距 ISO4287:1998

參數(shù) 定義 執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn) 說明
A1 材料填充輪廓峰頂區(qū)域 ISO13565-2:1998

A2 潤(rùn)滑劑填充輪廓谷底區(qū)域 ISO13565-2:1998

Vo 油劑保留量


R 粗糙度圖形的平均深度 ISO12085:1996

Ar 粗糙度圖形的平均寬度 ISO12085:1996

Rx 粗糙度不規(guī)則度的大深度 ISO12085:1996

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