德國EPK麥考特G6機(jī)械鍍層測厚儀

• 規(guī)格：MIKROTEST G6、F6、Ni50
• 品牌：德國EPK
• 用途：測量鋼上所有非磁性涂層鍍層厚度。

德國EPK MikroTest麥考特G6機(jī)械鍍層測厚儀

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產(chǎn)品名稱：涂層測厚儀/鍍層測厚儀/漆膜測厚儀/磁性測厚儀

型號(hào)：MIKROTEST G6、F6、Ni50

品牌：德國EPK

銷售代理：深圳市宇凱科技有限公司

德國EPK麥考特G6機(jī)械鍍層測厚儀產(chǎn)品介紹：

德國EPK麥考特G6機(jī)械鍍層測厚儀測量鋼上所有非磁性涂層鍍層厚度（如漆、粉末涂層、塑料、鋅、銅、錫及鎳）。測量快速、、無損，三十多年來MikroTest (麥考特)涂層鍍層測厚儀已成為被廣泛應(yīng)用的自動(dòng)測定涂鍍層厚度的專用儀器。德國的“訣竅”說明MikroTest (麥考特)涂層鍍層測厚儀在工藝技術(shù)及精度方面，具有磁性覆層測厚儀的水準(zhǔn)。

德國EPK麥考特G6機(jī)械鍍層測厚儀產(chǎn)品特性：

1.自動(dòng)測量不會(huì)發(fā)生誤操作;

2.易于掌握并具有極高精度;

3.不用校準(zhǔn)、設(shè)定、檢測簡便;

4.不需要電池或其他電源;

5.自動(dòng)報(bào)出厚度讀值;

6.磁性測頭，一點(diǎn)測定;

7.適于室外頻繁操作使用;

8.抗機(jī)械沖擊、耐酸及溶劑腐蝕;

9.平衡裝置消除地心引力影響，可在任意方向和管內(nèi)準(zhǔn)確測量。

德國EPK麥考特G6機(jī)械鍍層測厚儀技術(shù)規(guī)格：

型號(hào) 測量范圍 測量精度 小測量區(qū)直徑mm 小半徑mm

凸凹 基體小

厚度mm 適用范圍

MIKROTEST G6 0-100um 1um或5% 20 5 25 0.5 鋼、鐵上電鍍層、漆、搪瓷、塑料、橡膠層

MIKROTEST F6 0-1000um 3um或5% 30 8 25 0.5

MIKROTEST S3 0.2-3mm 5% 30 15 25 1.0

MIKROTEST S5 0.5-5mm 5% 50 15 25 1.0

MIKROTEST S10 2.5-10mm 5% 50 15 25 2.0

MIKROTEST S20 7.5-20mm 5% 100 100 150 7.0

MIKROTEST NiFe50 0-50um 2um+5% 20 20 25 0.5 鋼上電鍍鎳層

MIKROTEST Ni50 0-50um 1um+5% 15 5 25 － 非鐵質(zhì)金屬基體上電鍍鎳層

MIKROTEST Ni100 0-100um 1um+5% 15 5 25 － 非鐵質(zhì)金屬基體上電鍍鎳層

符合標(biāo)準(zhǔn)：

符合DIN、ISO及ASTM標(biāo)準(zhǔn)。MIKROTEST完全自動(dòng)操作。

德國EPK麥考特G6機(jī)械鍍層測厚儀標(biāo)準(zhǔn)配件:

Mikrotest測厚儀Ⅲ或Ⅳ型配有手提（和頭掛）繩、塑料盒及使用手冊(cè).

應(yīng)用:

鋼鐵上所有非磁性涂層.如:鉻,銅,油漆,橡膠等;和非鐵磁性基體上的電鍍鎳.

德國EPK麥考特G6機(jī)械鍍層測厚儀操作方法:

麥考特的工作原理依據(jù)的是磁吸引力原理,測量磁鋼(3)與磁性基體(鋼或鎳)間的磁吸力與盤彈簧(6)的彈力平衡.盤狀彈簧的旋轉(zhuǎn)彈力的大小與涂層的厚度直接相關(guān).平衡臂(4)保證了各種方位的準(zhǔn)確測量(如在垂直面或仰面測量).Mikrotest 6型測厚儀無需電池可直接工作.首先去除被測量物及表面的油和塵土。

使用Mikrotest G、F、Galvanotest型（自動(dòng)式）

先反時(shí)針旋轉(zhuǎn)度盤（圖1中6）到底，將麥考特與被測表面平行靠緊。此時(shí)讀數(shù)即為厚度值。在度盤旋轉(zhuǎn)過程中，不要碰按鈕終厚度值.

測量方式:

1.平面測量

測量面的位置對(duì)于測量結(jié)果無影響，注意技術(shù)數(shù)據(jù)表中所列的小測量范圍和基體的厚度。

2.彎面測量

在測量柱體或圓形邊緣時(shí)，利用儀器上的V型部分，將儀器如示意圖6放置，測量凹畫時(shí)與測量平面相同，但要注意小曲率的限制。

3.粗糙表面測量

在粗糙表面測量時(shí)，讀數(shù)將增大（特別是在顆粒尖上）在特別粗糙（如峰值超過50um）的鋼基體上，并且涂層厚度超過100um時(shí)，實(shí)際讀數(shù)高于涂層真實(shí)厚度達(dá)20％之多。在這種情況下，平均值的讀取至少應(yīng)測5個(gè)以上。

4.檢查度

標(biāo)準(zhǔn)厚度的測量通常只需偶爾進(jìn)行或在懷疑讀數(shù)的正確性時(shí)進(jìn)行。對(duì)于這種測量可采用EPK公司的厚度標(biāo)準(zhǔn)件校準(zhǔn)，同樣還可采用其它方法校對(duì)此測量儀：對(duì)于型號(hào)Mikrotest G、F和Galvanotest可采用一塊無涂層的鋼（涂層厚度為“0”)如儀器讀數(shù)為1標(biāo)準(zhǔn)公差，那么整個(gè)測量為正確的。切不可使用薄片校對(duì)！在那種情況下讀數(shù)將大大增高;對(duì)于S3、S5和S10型號(hào)可采用一塊用上述的鋼塊和一片已知厚度的非磁性材料（如塑料）;對(duì)于型號(hào)Ni50和Nil00可采用一個(gè)厚的非磁性材料（如木頭）此時(shí)測量儀應(yīng)指示0-1um。

操作中遇到的問題：

由于測厚儀經(jīng)過校準(zhǔn)后，在使用中不能再變動(dòng)。所以，在實(shí)際使用中，可能會(huì)出現(xiàn)的一些影響測量精度的因素必須加以考慮，并對(duì)測量結(jié)果進(jìn)行必要的修正。以獲得更準(zhǔn)確的讀值

這些因素有：

1.鋼鐵基體的磁特性及光澤;

2.基體金屬厚度：該儀器有一個(gè)基體小臨界厚度值。型號(hào)不同、則這個(gè)厚度值不同。請(qǐng)參考技術(shù)說明指標(biāo)。若厚度超過這一小臨界厚度值，測量值不受影響。反之，則造成讀值偏高。

c.邊緣效應(yīng):該測量方法對(duì)被測體邊界、孔眼、空腔等表面形狀陡變敏感。因此，在靠近邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處進(jìn)行測量是不可靠的。所以，技術(shù)說明指標(biāo)指出了小測量面積。一定要測量則必須經(jīng)過校對(duì)驗(yàn)證。

d.曲率:被測件的曲率對(duì)測量有影響，一般凸面可以造成測值偏大，凹面則偏小。盡管儀器設(shè)計(jì)對(duì)這方面有所補(bǔ)償。

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