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μ-X360n 新一代超快高精度便攜式X射線殘余應力分析儀

規(guī)格:μ-X360n

所屬類型:殘磁檢測儀

品牌:日本帕路斯

  • 價格:2000
  • 發(fā)布時間:2020/06/16 11:28
  • 數(shù)量:1000
  • 所在地:陜西 西安
產(chǎn)品詳情
  • 規(guī)格:μ-X360n
  • 品牌:日本帕路斯
  • 用途:殘余應力分析

創(chuàng)新點:μ-X360是世界基于二維探測器和cosα分析方法的新一代X射線殘余應力分析儀,將利用X射線研究殘余應力的測量速度和精度推到了一個全新的高度,總體說來它比傳統(tǒng)方法具有如下優(yōu)點:
更快: 二維探測器獲取完整德拜環(huán),單角度一次入射測量即可完成測量,全過程平均約90秒
更:一次測量多可獲得500個數(shù)據(jù)點,用于擬合計算應力
更輕松:無需測角儀,單角度一次入射即可,復雜形狀和狹窄空間的測量不再困難
更方便:測量精度高, 無需冷卻水、野外工作無需外部供電
更強大:有區(qū)域應力分布測量成像(Mapping)功能,軟件有晶粒大小、材料織構、殘余奧氏體信息分析功能


產(chǎn)品簡介

世界基于二維探測器與cos分析方法的新一代X射線殘余應力分析儀,開啟新高度的X射線殘余應力研究。
測試點定位容易;
速度快:單點測試時間典型值90秒;
可靠:得到整個德拜環(huán)的衍射數(shù)據(jù),可以給出晶粒尺度以及取向(織構)信息。
造價低廉:無需使用測角儀。
可在工業(yè)現(xiàn)場使用;
X射線靶材無需水冷,功率小,經(jīng)濟安全;
體積小,重量輕,耗電少:探頭單元4Kg,測量功率75瓦,可用電池供電。

詳細信息

Pulstec X射線殘余應力測試儀(μ-x360n)示意圖


新一代超快高精度X射線殘余應力分析儀

日本Pulstec公司制造型號:μ-X360n


產(chǎn)品介紹

X射線是表面殘余應力測定技術中為數(shù)不多的無損檢測法之一,是根據(jù)材料或制品晶面間距的變化測定應力的,至今仍是研究得廣泛、深入、成熟的內應力測定方法被廣泛應用于科學研究和工業(yè)生產(chǎn)各領域。過去幾十年時間里大家都在使用基于一維探測器和Sin2Ψ分析方法的分析儀,2012年日本Pulstec公司開發(fā)出世界基于二維探測器和cosα分析方法的新一代X射線殘余應力分析儀——μ-X360,將利用X射線研究殘余應力的測量速度和精度推到了一個全新的高度,設備一經(jīng)推出受到了業(yè)界的廣泛關注和接受,總體說來它比傳統(tǒng)方法具有如下優(yōu)點:


更快: 二維探測器獲取完整德拜環(huán),單角度一次入射測量即可完成測量,全過程平均約90秒
更:一次測量多可獲得500個數(shù)據(jù)點,用于擬合計算應力
更輕松:無需測角儀,單角度一次入射即可,復雜形狀和狹窄空間的測量不再困難
更方便:測量精度高, 無需冷卻水、戶外工作無需外部供電;體積輕巧便攜
更強大:有區(qū)域應力分布測量成像(Mapping)功能,軟件有晶粒大小、材料織構、殘余奧氏體


應用領域

1.機械加工領域:測量機床、焊接、鑄造、鍛壓、裂紋等構件的殘余應力。

2.冶金行業(yè):測量熱壓、冷壓、煉鐵、煉鋼、煉鑄等工業(yè)生產(chǎn)構件的殘余應力。

3.各種零配件制造:測量電站汽輪機制造、發(fā)動機制造、油缸、壓力容器、管道、陶瓷、裝配、螺栓、彈簧、齒輪、軸承、軋輥、曲軸、活塞銷、萬向節(jié)、機軸、葉片、刀具等工業(yè)產(chǎn)品的殘余應力。

4.表面改性處理:測量滲氮、滲碳、碳氮共滲、淬火、硬化處理、噴丸、振動沖擊、擠壓、滾壓、金剛石碾壓、切削、磨削、車(銑)、機械拋光、電拋光等工藝處理后構件中的殘余應力

5.民生基礎建設領域:

(1)海洋領域:測量船舶、海洋、石油、化工、起重、運輸、港口等領域設備和設施的殘余應力

(2)能源領域:測量核工業(yè)、電力(水利水電、熱電核電)、水利工程、天然氣工程等領域的設備和設施的殘余應力

(3)基礎建設工程領域:測量挖掘、橋梁、汽車、鐵路、航空航天、交通、鋼結構等工程領域所用材料、構件及其它相關設備設施的殘余應力

6.國防軍工領域:測量武器裝備、重型裝備等軍工產(chǎn)品的殘余應力。


測試原理

(1)傳統(tǒng)方法——sin2Ψ

——通過測量應力引起的衍射角偏移,從而算出應力大小。測量時需要多次(一般5-7次)改變X射線的入射角,并且調整一維探測器的位置找到相應入射角的衍射角

——施加應力后,通過測角儀得到衍射角發(fā)生變化的角度,從而計算得到應力數(shù)據(jù)

(2)μ-X360——基于cosα方法

——單角度一次入射后,利用二維探測器獲得完整德拜環(huán)。通過比較沒有應力時的德拜環(huán)和有應力狀態(tài)下的變形德拜環(huán)的差別來計算應力下晶面間距的變化以及對應的應力

——施加應力后,分析單次入射前后德拜環(huán)的變化,即可獲得全部殘余應力信息

西安賽普斯科學儀器有限公司銷售日本帕路斯 μ-X360n,針對日本帕路斯 μ-X360n客戶提供相關咨詢服務,需要了解日本帕路斯 μ-X360n型號尺寸、重量、價格、安裝、維護等資料請與我們聯(lián)系。

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