光學(xué)輪廓檢測(cè)儀

光學(xué)輪廓檢測(cè)儀可自動(dòng)聚焦測(cè)量工件獲取2D，3D表面粗糙度、輪廓等一百余項(xiàng)參數(shù)，能達(dá)到微型范圍內(nèi)重點(diǎn)部位的納米級(jí)粗糙度、輪廓等參數(shù)的測(cè)量。廣泛應(yīng)用于如納米材料、航空航天、半導(dǎo)體等各類精密工件表面質(zhì)量要求高的領(lǐng)域中。SuperViewW1光學(xué)3D表面輪廓儀以白光干涉技術(shù)為原理、結(jié)合精...更多

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輪廓測(cè)量儀圖片