MC-2000A涂層測(cè)厚儀|磁性測(cè)厚儀|覆層測(cè)厚儀

MC-2000A型涂層測(cè)厚儀（鍍層測(cè)厚儀）測(cè)量范圍：0～1200um，是高新技術(shù)的結(jié)晶,它采用單片機(jī)技術(shù)，精度高、數(shù)字顯示、示值穩(wěn)定、功耗低、操作簡(jiǎn)單方便、無(wú)校正旋鈕、單探頭全量程測(cè)量、體積小、重量輕；且具有存儲(chǔ)、讀出、統(tǒng)計(jì)、低電壓指示、零點(diǎn)校準(zhǔn)、兩點(diǎn)校準(zhǔn)及系統(tǒng)校準(zhǔn)，其性能達(dá)到當(dāng)...更多

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涂層測(cè)厚儀圖片