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鍍層厚度檢測(cè)儀

  • 鍍層厚度檢測(cè)儀
  • 鍍層厚度檢測(cè)儀小圖

一、概述MC-2000C型鍍層厚度檢測(cè)儀是高新技術(shù)的結(jié)晶,它采用單片機(jī)技術(shù),精度高、數(shù)字顯示、示值穩(wěn)定、功耗低、操作簡(jiǎn)單方便、觸摸按鍵、單探頭全量程測(cè)量、體積小、重量輕。采用磁性測(cè)厚法,可以方便無(wú)損地測(cè)量鐵磁材料上非磁性涂層的厚度,如鋼鐵表面上的鋅、銅、鉻等鍍層或油漆、搪瓷、玻璃...更多

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涂層測(cè)厚儀圖片
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