μ-X360n 新一代超快高精度便攜式X射線殘余應(yīng)力分析儀

創(chuàng)新點(diǎn)：μ-X360是世界基于二維探測(cè)器和cosα分析方法的新一代X射線殘余應(yīng)力分析儀，將利用X射線研究殘余應(yīng)力的測(cè)量速度和精度推到了一個(gè)全新的高度，總體說(shuō)來(lái)它比傳統(tǒng)方法具有如下優(yōu)點(diǎn)：更快：二維探測(cè)器獲取完整德拜環(huán)，單角度一次入射測(cè)量即可完成測(cè)量，全過(guò)程平均約90秒更：一次測(cè)量多...更多

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殘磁檢測(cè)儀圖片